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【2h】

Minimum test sets for locally exhaustive testing of combinational circuits with five outputs

机译：用于五个输出的组合电路的局部穷举测试的最小测试集

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Yokohira, Tokumi; Shimizu, Toshimi; Michinishi, Hiroyuki; Sugiyama, Yuji; Okamoto, Takuji;
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年度 1994
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1. Exhaustive testing of stuck-open faults in CMOS combinational circuits [J] . Bate J.A., Miller D.M. IEE Proceedings. Part E . 1988,第1期

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3. The complexity of generating minimum test sets for PLA's and monotone combinational circuits [J] . Chakravarty S., Hunt H.B. III IEEE Transactions on Computers . 1989,第6期

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5. Methodology of partitioning and exhaustive test pattern generation for builtin self-testing of VLSI circuits. [D] . Jone, Wen-Ben. 1988

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6. Clinical Testing of a National Standardized Minimum Data Set Designed to Capture the Management Context of Health Care Delivery [O] . Connie W. Delaney, Diane G. Huber 1997

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7. Proof that akers' algorithm for locally exhaustive testing gives minimum test sets of combinational circuits with up to four outputs [O] . Michinishi, Hiroyuki, Yokohira, Tokumi, Okamoto, Takuji 1993

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8. Design of Minimum Fault Test Schedules and Testable Realizations for Combinational Logic Circuits [R] . Bearnson, L., Carroll, C. C. 1970

机译：组合逻辑电路的最小故障测试时序设计和可测试实现

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